金融界2024年10月29日消息，国家知识产权局信息显示，长鑫存储技术有限公司申请一项名为“存储器、内建自测试方法和测试系统”的专利，公开号CN118824336A，申请日期为2023年4月。
专利摘要显示，本公开提供了一种存储器、内建自测试方法和测试系统，该存储器包括用于对数据校验得到的错误数据位进行计数的计数器，在存储器进行内建自测试的过程中，每检测到1个数据错误则产生1个标志脉冲信号，并利用计数器对标志脉冲信号进行计数。
本文源自金融界
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